这篇博客介绍了HALCON20.11中的一维测量功能，包括沿直线和弧线的边缘定位，以及如何使用gen_measure_rectangle2和gen_measure_arc生成测量对象。measure_pos、measure_pairs和measure_thresh等算子用于执行精确的尺寸测量，而模糊测量则允许更灵活的边缘选择。此外，还讨论了如何使用fuzzy_measure_pos和fuzzy_measure_pairs等算子处理不清晰的边界情况。博客还涵盖了测量对象的创建、销毁、存储和读取等操作。
开发板推荐：天空星STM32F407VET6开发板
超高性价比 STM32主控 | 超高主频 | 一板兼容百芯 | 比赛神器 | 沉金彩色丝印
本章主要提供有关一维测量的信息。
通过一维测量可以沿着预定义的线或弧定位从亮到暗或从暗到亮的过渡边缘。这使您可以快速、轻松地高精度测量零件的尺寸。注意，如果您想要测量几何图元(如圆、椭圆、矩形或线)的尺寸，并且位置、方向和几何形状的近似值是已知的，那么二维测量可能是一个合适的替代方法。
沿着直线(1)或弧线(2)测量边缘和它们之间的距离
下面简要介绍使用一维测量所需的步骤。
首先，必须生成一个测量对象来描述感兴趣的测量区域。如果测量应沿直线进行，则测量对象由矩形定义。如果测量应沿圆弧进行，则测量对象定义为圆弧。测量对象由算子生成：
开发板推荐：天空星STM32F407VET6开发板
超高性价比 STM32主控 | 超高主频 | 一板兼容百芯 | 比赛神器 | 沉金彩色丝印
3965
8406
被折叠的 条评论
为什么被折叠?
到【灌水乐园】发言
扫一扫
