Scan之新发现

本文为ATE新人提供DFT测试的入门指南，从理解BSCAN、SCAN、MBIST等向量文件的作用，到机台配置和测试失败排查技巧，帮助新人快速掌握芯片测试的核心技能。文章详细介绍了向量加载、时序设置和常见问题解决方案，助力工程师高效完成ATE测试工作。

目录 1.AC/DC介绍及区别 2.DC/ACmode (a).DCmode (b).ACmode 1.AC/DC介绍及区别 70年代到1995年这段时间里，由于芯片的工作频率很低只有20-100M，scan测试只有DCSCAN，我们就能捕捉到所有std-logic的制造缺陷。但是1995年以后，测试科学家和工程师发现通过DCSCAN测试没有缺陷的芯片在高工作频率下使用会有问题。其根本原因是随着制造工艺向深亚微米迈进，芯片的工作频率也提高到2...

AC测试时，ATE（自动测试设备）只提供慢速的移位时钟和测试控制信号，高速测试脉冲由片内产生，如PLL（相位锁定环）。降低测试成本：虽然扫描测试需要额外的设计成本和测试设备，但相对于其他测试方法，它可以显著减少测试时间和成本，特别是在大批量生产环节。扫描测试的执行过程依赖于外部测试设备来应用测试向量（模式）和捕获测试响应。提高测试覆盖率：通过扫描链设计，可以实现对芯片内部信号的全面观察和控制，从而提高测试覆盖率。高度自动化：BIST通过内置的测试逻辑自动生成测试模式并分析结果，无需外部测试设备的支持。

纲要： 1.DC Scan and AC Scan ATPG可以使用Mentor公司的TestKompress和SNPS的TetraMAX工具产生，插入scan chain主要使用的工具是SNPS的DFT compiler，改工具嵌入在DC compiler工具之中。DC SCAN表示Normal Scan Test，测试频率低，一般那是10M-30M，其测试模型为stack-at模型。AC SCAN表示at-speed scan，测试频率较高，一般要求与芯片的实际工作频率一致。 70-95年，业

在做 scan的时候，我们会有两种mode，一种叫DC mode，一种叫AC mode。

前言 （1）磁盘数据的组织 磁盘上每一条物理记录都有唯一的地址，该地址包括三个部分：磁头号（盘面号）、柱面号（磁道号）和扇区号。给定这三个量就可以唯一地确定一个地址。 （2）磁盘访问时间的计算方式 磁盘在工作时以恒定的速率旋转。为保证读或写，磁头必须移动到所要求的磁道上，当所要求的扇区的开始位置旋转到磁头下时，开始读或写数据。对磁盘的访问时间包括：寻道时间、旋转延迟时间和传输时间。 （3）磁盘调度算法 磁盘调度的目的是要尽可能降低磁盘的寻道时间，以提高磁盘 I/O 系统的性能。 一、算法介绍 本磁盘调度使用

DFT scan synthesis(scan chain)简单原理 从检测难度看 sequential circuit > combinational circuit 多级时序不易观测中间信号，且准确性较差，需要进行辅助性设计 DFT scan synthesis(scan chain)： 主要包含两个步骤：1.scan replacement 2.scan stitching...

[json](https://www.jsonbest.com/zh) 一. FCFS 调度(先来先服务) 磁盘调度的最简单形式当然是先来先服务（FCFS）算法。虽然这种算法比较公平，但是它通常并不提供最快的服务。 例如，考虑一个磁盘队列，其 I/O 请求块的柱面的顺序如下： 98,183,37,122,14,124,65,67 如果磁头开始位于柱面 53，那么它首先从 53 移到 98，接着再到 183、37、122、14、124、65，最后到 67，磁头移动柱面的...

前面章节介绍了scan 的基本概念以及测试流程。本小节介绍scan 的形成和atpg flow。

DFT现在已经演进成DFX（X包括：T，D，M） T： Test D：Debug，CPU2JTAG, JTAG2CPU, M：Manufactory，PVT Monitor DFT的主要测试包括四大块。 DC Scan主要还是测试stuck-at相关的，不涉及timing相关的，测试的频率比较低。 AC Scan就是at speed测试。 Transition fault 和 Path de...

scan的过程解说 scan分为stuck-at和at-speed两种测试模式， item clk 说明 对应的DC/AC stuck-at 测试机提供时钟 时钟慢 静态测试 DC mode at-speed function clk 测试芯片中的延迟故障，也就是transition AC mode DC和AC模式下它们的shift是一样的，在launch和capture过...

代码来源于网上，方便自己查看，侵删 man_flow.tcl set SCRIPT_FILE script #建立放置脚本文件 source ./$SCRIPT_FILE/set_env.tcl #设置环境变量 source -echo ./$SCRIPT_FILE/file_create.tcl #生成放置报告和结果的文件夹 set cache_write WORK/$file_version set cache_read WORK/$file_version # set COMPILE

在可测性设计（DFT）技术中，scan的设计是其中非常重要的的一块内容，今天就来介绍一下业界常用的三种scan cell。一般来说，一个scan cell有两个不同的可选择的输入。第一个输入为数据输入（data input），也就是电路的组合逻辑的输入端。而第二个输入是扫描输入（scan input），由上一个scan cell的输出驱动的，从而形成一个或多个移位寄存器链（shift registers），我们把它称为扫描链（scan chain）。

近期在尝试跑LiteFlowNet，需要编译caffe，因为服务器上已经安装了CUDA11.3，其采用的环境是CUDA8.0+Cudnn5.1，因此安装了CUDA8.0的相关文件，并安装了gcc-4.8和g+±4.8。然而，在编译caffe时出现以下报错： ./include/caffe/parallel.hpp(99): warning: type qualifier on return type is meaningless ./include/caffe/parallel.hpp(99): warn

测试分类 半导体测试就是通过测量半导体的输出响应和预期输出并进行比较以确定或评估集成电路功能和性能的过程。 根据分类标准不同可以有多种分类有以下几种分类： 1.参数测试和功能测试。 参数测试： 参数测试验证的是电路的参数是否符合要求，采用诸如电流和电压之类的参数进行测量 功能测试： 功能测试是检测被测试的电路(组合逻辑，时序逻辑，存储器)在指定的输入条件下的输出是否正确。它是基于逻辑电平的故障检测，逻辑电平值通过测量原始输出的电压来确定，因此功能测试实际上是电压测试。(VLSI...

Scan chain 是一种常见的DFT技术，用于检测时序和逻辑故障。通过将芯片中的触发器（flip-flops）串联成一个长链，测试设备可以更容易地控制和观察这些触发器的状态。

“火山论剑”之奔跑吧SCAN - 浅谈DC/AC SCAN测试 2015-07-08 KevinHe BriteASIC SMIC-ASIC原创，转载请注明 SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用s

以一组信号为开始，可以看到mode有很多种很多层 参考链接： DFT设计绪论 scan & ATPG 0.Soc涉及的测试问题 标准单元---基于SCAN的测试 储存器与模拟模块---BIST 即MBIST和analog BIST 硬核软核IP---BIST(即Logic BIST,LBIST)，SCAN 封装与IO---Boundary Scan 1.SOC的全面测试--测试顺序看哪部分的失败几率大 DC参数测试：高低电平等。 Scan Based Test测试：在不影响原

目录 0.Soc涉及的测试问题 1.SOC的全面测试--测试顺序看哪部分的失败几率大 2.DFT要测的内容 或者说缺陷分类 (a).Stuck At (b).Transition (c).Path Delay (d).Bridge Test (e).IDDQ 3.DFT测试手段 1. 边界扫描测试：Boundary Scan Test: 2. 内建自测试BIST: 3. ...