SCAN AC mode 与 DC mode（待完成）

scan 过程就是在scan的shift mode(scan enable=1)下，测试机台将test pattern load到scan chain上(slow clk)，然后在fast clk下进行launch和capture（AC测试）或在ate_clk(slow clk)下进行launch和capture(DC测试)。

目录 1.AC/DC介绍及区别 2.DC/ACmode (a).DCmode (b).ACmode 1.AC/DC介绍及区别 70年代到1995年这段时间里，由于芯片的工作频率很低只有20-100M，scan测试只有DCSCAN，我们就能捕捉到所有std-logic的制造缺陷。但是1995年以后，测试科学家和工程师发现通过DCSCAN测试没有缺陷的芯片在高工作频率下使用会有问题。其根本原因是随着制造工艺向深亚微米迈进，芯片的工作频率也提高到2...

AC测试时，ATE（自动测试设备）只提供慢速的移位时钟和测试控制信号，高速测试脉冲由片内产生，如PLL（相位锁定环）。降低测试成本：虽然扫描测试需要额外的设计成本和测试设备，但相对于其他测试方法，它可以显著减少测试时间和成本，特别是在大批量生产环节。扫描测试的执行过程依赖于外部测试设备来应用测试向量（模式）和捕获测试响应。提高测试覆盖率：通过扫描链设计，可以实现对芯片内部信号的全面观察和控制，从而提高测试覆盖率。高度自动化：BIST通过内置的测试逻辑自动生成测试模式并分析结果，无需外部测试设备的支持。

本文为ATE新人提供DFT测试的入门指南，从理解BSCAN、SCAN、MBIST等向量文件的作用，到机台配置和测试失败排查技巧，帮助新人快速掌握芯片测试的核心技能。文章详细介绍了向量加载、时序设置和常见问题解决方案，助力工程师高效完成ATE测试工作。

DFT - 对芯片测试的理解（二） 详解 参考： https://www.docin.com/p-2014360649.html The basic view of DFT scan chain 这图很好的理解，Pre DFT时，将 DFF 换成 scan-FF ，让电路具备三种模式的切换。 Function mode：即chip正常的工作模式。此时SE=0。 Shift mode: 此时SE=1，选择Scan模式，并注入期望的SI序列，这样可以让每个 scan cell 有一个确定的值。 然后切换回f

纲要： 1.DC Scan and AC Scan ATPG可以使用Mentor公司的TestKompress和SNPS的TetraMAX工具产生，插入scan chain主要使用的工具是SNPS的DFT compiler，改工具嵌入在DC compiler工具之中。DC SCAN表示Normal Scan Test，测试频率低，一般那是10M-30M，其测试模型为stack-at模型。AC SCAN表示at-speed scan，测试频率较高，一般要求与芯片的实际工作频率一致。 70-95年，业

芯片正常工作时，各寄存器使用片上的正常时钟和复位信号，但在进行scan test时，时钟和复位应该分别是来自PAD的scan_clk和scan_rstn信号，在进行前端设计时，需要加入scan mux，将芯片内部的时钟和复位bypass掉，选用scan_clk和scan_rstn. 目录1.时钟1.1 时钟源的选择1.2 时钟门控2.复位 1.时钟 时钟的设计考虑主要包括时钟源的选择和clock gating的设计 1.1 时钟源的选择 时钟可能是直接来自片上PLL/OSC产生的时钟或是经由计数器分频产生的

scan的过程解说 scan分为stuck-at和at-speed两种测试模式， item clk 说明 对应的DC/AC stuck-at 测试机提供时钟 时钟慢 静态测试 DC mode at-speed function clk 测试芯片中的延迟故障，也就是transition AC mode DC和AC模式下它们的shift是一样的，在launch和capture过...

DC综合中遇到的问题及相应的解决方案

数字IC常见问题总结：主要包括数字IC开发人员工作中经常遇到的问题，以及数字IC应聘者经常被问到的问题。

Scan mode & ATPG 前言：Testability用来表征一个manufactured design的quality。 将testability放在ASIC前端来做，成为DFT(Design For Test)，用可控(controllable)可观(ob...

摘要：本文提出两种时钟控制方案：1）对于高频电路（>200MHz），在RTL中自动插入clk_occ_buf_*单元（禁止级联），后端工具将据此完成OCC插入；2）低频电路仅需普通scan_mux。图中展示了高频方案的实现规则，其禁用机制类似CGC：scan_mode下将CGC enable强制置0，同时低频CGC的scan_mode接0。该方案实现了高频电路的时钟门控优化，同时确保扫描测试功能不受影响。

我又回来了，好久没更博客了吧，没事来写下前段时间看的东西吧。 DC模式很简单，理论很简单，就是用邻近像素块的均值填充当前预测块，具体不做介绍了。这里介绍下VTM中DC的改进历程。 这里只介绍主要种子提案，下面给出DC相关提案号。 JVET-J0020 Description of SDR video coding technology proposal by Panasonic (Panasoni...

以一组信号为开始，可以看到mode有很多种很多层 参考链接： DFT设计绪论 scan & ATPG 0.Soc涉及的测试问题 标准单元---基于SCAN的测试 储存器与模拟模块---BIST 即MBIST和analog BIST 硬核软核IP---BIST(即Logic BIST,LBIST)，SCAN 封装与IO---Boundary Scan 1.SOC的全面测试--测试顺序看哪部分的失败几率大 DC参数测试：高低电平等。 Scan Based Test测试：在不影响原

DFT现在已经演进成DFX（X包括：T，D，M） T： Test D：Debug，CPU2JTAG, JTAG2CPU, M：Manufactory，PVT Monitor DFT的主要测试包括四大块。 DC Scan主要还是测试stuck-at相关的，不涉及timing相关的，测试的频率比较低。 AC Scan就是at speed测试。 Transition fault 和 Path de...

一款芯片奔着量产的芯片从最开始就应该考虑芯片的design for test（DFT），作为芯片设计前端的人员不仅要懂设计，也需要了解甚至懂点DFT，因为DFT不是只在中后端进行，在前端也需要做相应的设计。此仅以此笔记记录该此的项目总结，如有后续或修改补充，后续进行……

mcu前端设计

“火山论剑”之奔跑吧SCAN - 浅谈DC/AC SCAN测试 2015-07-08 KevinHe BriteASIC SMIC-ASIC原创，转载请注明 SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用s