《钴-60数字辐射成像集装箱检测系统》读书笔记2

第一章 X、γ数字辐射成像原理

1.2 X、γ辐射成像原理及发展概况

1.穿过物质的光子数与厚度的关系:I(t)=I_{0}e^{-\mu t},t是厚度

u是线性吸收系数(cm^-1),等于N*\sigma _{\gamma },N是单位体积内物质原子数(cm^-3),\sigma _{\gamma }=\sigma _{ph}+\sigma _{c}+\sigma _{p}是三种作用的总截面(cm^2)。

2.集装箱检测应用的一维阵列探测器及平移扫描的DR系统。由于用了前后准直器,大大减少了散射线的影响。

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