1.背景
近期在做一个小产品,是基于S32K144为MCU的板子。在调试过程中发现,虽然采用Jlink可以连接上,但是无法用S32DS的Debug模式进行调试。也就是.elf文件无法下载进入FLASH,而错误提示总是如下:
(1)Failed to download RAMCode
(2)Failed to Read Memory xxx
而且让人崩溃的是焊接了10套板子,有百分之八九十会有这种现象,现象还是一模一样。
首先是怀疑焊接有问题,焊接了N次,也换过N次MCU,最终的结果都是一样的。
xxxxx:真是让人欲哭无泪
2.排除的N种方法
2.1 是否S32DS的Debug模式有问题
网上遍历了各种帖子,也搜寻了各种官方的文档,然而没有任何作用。并不是各位大牛不牛,只能说没有对症下药

2.2 怀疑复位和晶振问题
既然焊接确保了,电压也测量了,阻抗也测量了,Debug设置也没问题,那是否是复位和晶振的问题,一查复位,还真是有问题,出现了谜之一样的波形:三角波形状的复位信号。抱着试试看的心里,看各位广大的网友是否也遇到类似的情况,还真找到了一遍很相关的S32K1xx系列MCU应用指南之芯片锁死(lockup)复位原因分析与恢复方法详解 (qq.com)
刚开始以为看了希望

博主在开发基于S32K144的项目中遇到Debug模式下载失败问题,通过排查复位、晶振、FlashLock等,揭示了安全机制锁定导致的调试难题,最终通过触发mass erase解除并分享了解决步骤。

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