[ATPG] test coverage 的计算方法

本文深入解析了芯片可测试性设计（DFT）中的三大关键技术：SCAN、BIST和ATPG。通过类比体检中心的X光机、自助检测仪和智能诊断系统，详细介绍了这些技术在芯片测试中的协同作用与实战配置，包括扫描链改造、内建自测试架构和智能向量生成原理，帮助工程师提升芯片测试效率与覆盖率。

ATPG不可测（AU）故障类别包括所有ATPG无法找到模式来创建测试，但也不能证明故障是冗余的故障。可能检测到的（POSDET）故障类别包括所有故障模拟识别为可能检测到的但不是硬性检测到的故障。通过模拟检测（DS）类别识别出“好电路模拟”和“故障电路模拟”结果不同时检测到的故障。

除了上文提到的UT外，Fault还有另一大类也是我们更加关心的一类TE，即可以检测到的fault。工具在计算test coverage时并不会将UT计算进去，而是计算detect到的fault的数量以及可能detect到的fault占所有fault中除去不可测试的fault的比值，所以提高coverage主要从AU、UD入手。

市场上java主要代码覆盖率工具：EMMA、JaCoCo总结一下个人对JaCoCo优势的理解：（1）JaCoCo支持分支覆盖、引入了Agent模式。（2）EMMA官网已经不维护了，JaCoCo是其团队开发的，可以理解为一个升级版。（3）JaCoCo社区比较活跃，官网也在不断的维护更新。我们前期使用的EMMA，也做了全量、差异覆盖率，和精准耦合也结合在了一起，但后来考虑到JaCoCo的优势，也就全部切换了过来。

1.背景介绍 测试覆盖率是一种衡量软件测试的方法，用于评估测试用例是否能够有效地检测到软件中的缺陷。在软件开发过程中，测试覆盖率是一种重要的质量保证手段，可以帮助开发人员确保软件的质量和可靠性。 在本文中，我们将从零开始介绍测试覆盖率的基础知识，包括核心概念、算法原理、具体操作步骤、数学模型公式、代码实例等。同时，我们还将讨论测试覆盖率的未来发展趋势和挑战。 2.核心概念与联系 2.1 测...

如何利用工具debug测试覆盖率低的原因

摘要： 该报告分析了Transition故障测试结果

再比如，一个逻辑门的输出扇出到5个不同的逻辑门（高扇出），如果这个逻辑门存在故障，故障效应在传播到这5个不同逻辑门的过程中可能会受到不同逻辑关系的影响，使得检测故障变得困难。例如，在一个具有多层嵌套逻辑的电路中，如一个由多个级联的与非门组成的电路，要检测到最内层与非门的输入故障，需要通过精确设置外部输入来使故障效应传播到电路的输出端。如果不考虑多故障情况，当多个故障同时发生时，可能会出现故障相互掩盖或者改变故障传播路径的情况，使得基于单故障假设生成的测试向量无法检测到这些多故障情况，从而影响故障覆盖率。

本文深入探讨了Tessent ATPG技术在芯片测试中的应用，从基础概念到实战技巧全面解析。文章详细介绍了故障模型、scan chain设计、EDT压缩技术等关键环节，并分享了提升ATPG效率的实用方法，帮助工程师掌握从Fault Model到Pattern生成的自动化流程。

摘要：本文介绍了ATPG中的故障分类及检测方法。主要分为可测故障(TE)和不可测故障(UT)。TE包括隐含检测(DI)、仿真检测(DS)和可能检测(POSDET)；不可测故障包括ATPG不可测(AU)、未控制(UC)/未观测(UO)和终止故障(AAB)。UT包括未使用(UU)、固定(TI)、阻塞(BL)和冗余(RE)故障。文章还讨论了影响故障检测的因素，如约束条件、非扫描单元和时钟时序深度等，并提供了调整abortlimit来优化故障检测的方法。

TetraMAX ATPG 实战教程摘要 本教程详细介绍了使用Synopsys TetraMAX工具提升故障覆盖率至98%的完整流程和实用技巧。主要内容包括： 流程概述：展示TetraMAX在DFT流程中的位置，从扫描插入网表到生成测试向量和覆盖率报告。 环境配置：提供输入文件清单（网表、SPF文件、工艺库）和初始化Tcl脚本模板。 核心操作： 基础ATPG流程（设置故障模型、添加故障、运行ATPG） 关键优化选项（压缩模式、时序感知、多核并行） 覆盖率分析： 诊断AU/ND/UD等故障类型 提供Test

AU类型fault占比过高，debug方法

本文深入解析Tessent Test Point技术在芯片测试向量压缩中的应用，通过真实案例展示如何利用Test Point Insertion技术精准减少冗余测试向量。从环境配置到Control/Observe Point的实战策略，再到Pre-scan和Post-scan流程的避坑指南，全面指导工程师优化测试效率，显著降低测试成本。

Mentor-dft 学习笔记 day5(Fault Class Hierarchy及scan element）

1.背景介绍 在软件开发过程中，测试覆盖率是一种衡量软件测试的效果的重要指标。它可以帮助开发者了解测试的覆盖程度，从而更好地发现和修复软件中的缺陷。在实际应用中，测试覆盖率的计算和可视化是非常重要的，因为它可以帮助开发者更好地了解软件的质量，并提高软件的可靠性和安全性。 在本文中，我们将介绍测试覆盖率的可视化与Cover定理，并详细讲解其核心概念、算法原理、具体操作步骤以及数学模型公式。同时，...

定义：测试覆盖率（Test Coverage）是衡量测试用例对程序代码或需求规则“触达程度”的量化指标。测试覆盖率是有用的，但远远不够。它是质量管理的“温度计”，而非“治疗方案”。科学评估测试覆盖率，真正做到：✅ 关注场景、风险和业务价值✅ 结合AI与数据驱动持续优化✅ 构建多维度的质量保障体系才能让软件测试不再困于“数字迷思”，真正走向智能化、高质量、用户价值驱动的未来。如果您希望我增加AI实战案例或给出完整评估模型表格，欢迎告诉我！

有哪些成功案例是通过特定方法提升DFT ATPG的coverage的？

虽然消费者对产品的轻微故障可能有一定的容忍度，但为了保证基本的用户体验和产品的可靠性，需要较高的覆盖率来筛选出大部分有制造缺陷的芯片。- 随着工艺节点的不断缩小，芯片制造过程中的不确定性增加，新的故障类型（如与工艺相关的漏电故障、近邻效应引起的故障等）可能出现。一般来说，在7nm及以下工艺节点，即使是消费类电子产品中的芯片，也可能要求DFT ATPG覆盖率达到95% - 98%，以确保在复杂的制造工艺下能够检测到更多潜在故障。- **复杂芯片（如多核处理器、高度集成的SoC）**- **汽车电子领域**