机器视觉丨AOI光源原理图和打光案例

在视觉检测中，光源的选择和光源位置的布置对于采集图像的质量和检测结果有着紧密相连的关系。首先需要我们了解不同光源的优缺点，如常见的同轴光源、条形光源、环形光源、穹顶光源...以及通过各类光源颜色的。（图一为互补色环 ）灰度值增大，即变暗灰度值降低，即变亮选择合适的光源图1。

机器视觉领域，不同的光源和打光角度适应的场景不同。

应用案例:CB基板检测，IC元件检测，焊锡检查，Mark点定位，显微镜照明，包装条码照明，球形物体照明等。白色光源通常用色温来界定,色温高的颜色偏蓝色(冷色，色温>5000K)，色温低的颜色偏红(暖色，色温<3300K)，界于3300与5000K之间称之为中间色，白色光源适用性广，亮度高，特别是拍摄彩色图像时使用更多。60°~90°光出射角度集中照射被测物表面，突显物体的表面对不同特性，应用案例有：电感锡面检测，USB接口网线接口等不同数据接口的pin针检测，高尔夫球T端面检测，以及平面喷码检测。

摘要：机器视觉光源选择直接影响检测效果。文章系统解析光源选型方法论：1）颜色选择遵循互补色增强对比度、类似色弱化差异的原理；2）根据检测需求选择波长（蓝光适合表面缺陷，红光穿透性强）；3）匹配工件特性选择照明方式（同轴/直射/透射/间接）；4）考虑镜头类型和安装距离确定光源尺寸。同时指出LED光源因寿命长、可控性强成为首选，并列举六大常见选型误区。通过科学的光源配置，可显著提升机器视觉系统的检测精度和稳定性。

通过合理选择光源和光学器件、掌握打光技巧并遵循科学的打光流程，可以获得高质量的图像效果并提升检测的准确性和效率。使用光学器件优化光照：通过反射镜、分光镜等光学器件，可以改变光源的照射角度和光路，使光照更加均匀和适合检测需求。根据检测需求选择光源：不同的检测对象和环境对光源的要求不同，需根据具体情况选择合适的光源类型和亮度。调整光源亮度：在保证图像清晰度的前提下，尽量降低光源亮度，以减少对相机的干扰和能耗。确定光源位置和角度：通过实验和调整，确定光源的最佳位置和角度，以获得最佳的照明效果。

高角度光和低角度光的组合光源是实验效果最好的AOI光源。其中，高角度光我建议使用同轴光，圆顶光次之。低角度光源使用30度的环形光。

版权声明：本文为博主原创文章，遵循 CC 4.0 BY-SA 版权协议，转载请附上原文出处链接和本声明。 本文链接：https文章目录 光源基础知识 1.光源 1.1光源的作用         一套视觉检测系统主要包括图像采集模块和图像处理模块，而图像采集模块主要由工业相机、镜头以及光源组成。 图像是机器视觉处理问题的核心，光源是决定图像质量的重要因素。 机器视觉中的光源的作用主要有： 1）照亮目标，提高亮度； 2）形成有利于图像处理的成像效果，降低视觉.

因此当物体表面比较平整是，物体反射的光线才沿着一定的方向射入相机，将平整面照亮，但是表面凹凸不平的物体反射的光线不能以原来的方向射入反光片。圆顶光源是由高密度的LED排列在圆形电路板上的漫反射无影光源，球面内部有特殊涂层，LED的光经球面特殊涂层的漫反射均匀、平滑地照射在被测物体表面。正斜面打光，光源在相机的下方，目标物体在光源的下方，且光源与目标物体保持一定的角度。使用黑白相机时，当光源照射在具有相邻色的物体表面时，物体将会反射同种颜色色谱的光线，相机接收到对应光线后，物体表面会变亮。

1机器视觉光源分类编辑 OPT机器视觉光源共有25大系列 OPT机器视觉环形光源 1、 环形光源（OPT-RI系列） 特点：环形光源提供不同角度照射，能突出物体的三维信息，有效解决对角照射阴影问题。高密度LED阵列，高亮度；多种紧凑设计，节省安装空间；可选配漫射板导光，光线均匀扩散。 应用：PCB基板检测；IC元件检测；显微镜照明；液晶校正；塑胶容器检测；集成电路印字检测；通用外

工业光源选型概览

环形光源，主要应用于：IC等半导体产品外观字符检测、PCB电路基板与元件检测、通用外观检测等。

自动光学检测的光源分为两类：可见光检测(用LED光源)和X光检测。 (此处介绍可见光检测)AOI检测分为两部分：光学部分和图像处理部分。通过光学部分获得需要检测的图像；通过图像处理部分来分析、处理和判断。图像处理部分需要很强的软件支持，因为各种缺陷需要不同的计算方法用电脑进行计算和判断。有的AOI软件有几十种计算方法， 例如黑／白、求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求边角等等

AOI（Automated Optical Inspection缩写）的中文全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。

AOI检测系统的优点是AOI检测系统取代了人工目检，避免人工目检的偶然性、随机性和重复性差的问题，特别是解决了人工目检不能定量的分析、贴放的偏差及焊点的质量，人工目检不能对SMT提出可靠的修正性分析的建议，而AOI自动光学检测具有SPC的数据反馈、统计功能；AOI检测系统为制程的优化和改进提供依据，AOI系统可以置于流水线至上，不仅可以测试检查单板的结构性缺陷，还可以成为单板生产过程及质量控制的有效工具，AOI检测系统可以及时的对测试结果进行统计，实时反馈，做到闭环控制。

目前常见光模块种类如下：400GE光模块、200GE光模块、100GE光模块、40GE光模块、25GE光模块、10GE光模块、GE光模块、FE光模块。使用破损的光纤跳线，易导致光模块损坏。光电模块通常称为电模块，又叫做光转电模块、RJ45模块，与光模块不同，电模块不进行光电转换。光模块通常需要写入厂商信息等，也就是我们常说的兼容性，如通讯仍不能正常，请与客服联系您的光模块是否与您的设备兼容。4、使用标准的光纤跳线，长期不使用的情况下，光纤跳线必须安装防尘帽，以免在光纤跳线与光模块对接时产生光口污染。

在AOI检测过程中，无论是OK产品还是NG产品，都需要通过打光来捕捉其表面的图像信息，以便进行后续的图像处理和缺陷检测。一般来说，AOI检测设备需要对被检测物体进行全方位、多角度的打光，以确保能够捕捉到物体表面的所有细节和特征。在机器视觉AOI（Automated Optical Inspection，自动化光学检测）检测设备研发中，打光是一个至关重要的环节。因此，在机器视觉AOI检测设备研发中，打光是一个不可或缺的环节，对于OK和NG产品都需要进行精心的打光设计和调整。

此外，很多复杂的被测环境需要两种或两种以上照明技术共同配 合完成。因而丰富的照明技术可以解决视觉系统中图像获取的很多问 题，光源照明技术的选择可能对一个视觉系统的成功与否至关重要。在垂直于传播方向的平面内，光矢量只沿某一个固定方向振动 的光。通常是利用偏光板(片)来防止特定方向的反射。发光角度越窄的LED 直射光越接近平行光。主要来自于一个方向的光，可以在亮色和暗色阴影之间产生相 对高的对比度图像。各种角度的光源混合在一起的光。日常的生活用光几乎都是扩 散光。

自动光学检测（AOI，Automated Optical Inspection）设备是一种利用光学成像和图像处理技术进行非接触式缺陷检测的自动化系统，在半导体制造中广泛应用于晶圆、芯片和封装环节的缺陷识别。以下是其基本原理的详细解析，分为核心步骤，并附上C#实现的示例代码，模拟图像采集、处理和缺陷检测的简化流程。AOI设备的核心是通过光学系统采集被检物体的高清图像，并利用图像处理算法与标准模板比对，识别缺陷。以下是一个简化的C#代码示例，模拟AOI设备的图像采集、预处理和缺陷检测流程。