078、坏点校正（DPC）进阶：静态坏点标定与动态坏点检测算法实现

078、坏点校正（DPC）进阶：静态坏点标定与动态坏点检测算法实现

一、一个让我熬夜三天的坏点问题

2019年某款旗舰机项目，量产前两周，产线突然反馈：暗光下预览画面出现大量“星星点”——不是噪点，是那种固定位置、亮度异常的白点。产线良率从92%直接掉到67%。

我连夜调取log，发现ISP的DPC模块根本没生效。查了半天，问题出在静态坏点标定环节：产线标定环境用的是DNP光源，色温5500K，但标定算法里有一个阈值写死了——对不同通道的响应差异没做归一化处理。结果就是，R通道的坏点被漏标了30%，而B通道的正常像素被误标成了坏点。

这个教训让我意识到：坏点校正不是简单的“发现一个点就替换掉”，而是一套从标定到检测、从静态到动态的完整工程体系。

二、静态坏点标定：别让产线坑了你

静态坏点标定，说白了就是出厂前把sensor上“天生残疾”的像素找出来，存到OTP里。但这里有个坑：sensor的坏点分布会随温度、增益变化而“漂移”。

2.1 标定环境搭建

别信sensor厂商给的坏点表——那是晶圆级测试结果，封装后应力变化会导致新的坏点出现。我习惯的做法是：

暗场标定：盖上镜头盖，拍100帧暗场，取均值。这一步是为了找“死像素”（输出始终为0或饱和）。阈值设定：像素值低于暗电流均值+3σ的，标记为暗坏点；高于饱和值-3σ的，标记为亮坏点。

亮场标定