有关应广编程助手中不同芯片的ADC案例的说明

       为了方便理解，先上个122的ADC内部的结构框图，这个框图其实挺简单的。也是应广系列中最简单的ADC了，ADC的参考源只有一个，也就是VDD

但当你打开编程助手，就会发现，原来有好多种用法。

         从编程助手那边看，肯定要吧你看晕，demo是有了，但是哪个才适合当前的项目呢？一个字 晕。

         莫急，莫急，让我来归纳总结一下。

         ADC测量原理类似于一个天平称，用已知去测试/衡量未知。因此不管是怎么样变化，要么ADC的参考电压是已知，要么被测试量（比如BG）是已知。

         案例1.2.3 单参考，也就是说，参考只有一个，只有vdd，要么是vdd电压已知，要么就是bg电压可知，通过比例关系得知另外一个项。

         比如案例1.mcu的电源是接在3.3V的ldo输出上的，有了这个3.3V参考，那么就可以对IO进行测试。

        案例2.3 mcu的电源电压是不定的，比如是接在电池上，那么随着时间变化电池的电压也在变化，但是因为内部有BG1.2V，因此，在没有很大的负载条件下，可以认为电池电压在短时间内是恒定的，可以通过GB1.2V电压反推电池电压。当得到电池电压之后又可以通过这个电压去测试IO口电压。这个非常实用，可以不用外置测量电阻就可以知道vdd电压。

细节可以看看规格书。有不明白可以联系我。

       介绍完成单参考，接着我再介绍少参考，其实就是比单参考多一个BG1.2V参考。也就是2个参考源，请看下图，这个是pfs123的ADC的框图，相比122的ADC，通过adcrgc[7],可以选择ADC的参考源

       案例4.5.6. 和案例1.2.3是一样，参考电压是vdd。如果搞明白了122的adc，也就可以不看这几个案例了

        案例7.使用外部参考源，也就是用其中IO参考测试另外一个IO，这样就提高灵活度，可以外置参考源，比如有些传感器，要进行精密测试，可以选择更稳定的外置的参考电压，把参考源接入IO即可，然后去测试另外一个IO

        案例8.是使用BG作为ADC的参考源，然后去测试IO口电压，,因为bg电压只有1.2V,因此测试的IO电压只能是1.2V以内，这个也就比122更灵活了。

接下来我在介绍一下122B的ADC的结构，也就是所谓的多参考，不多说，上框图。

         从框图上看，确实比之122和123要复杂一些，当已经熟悉了上面两颗MCU的ADC之后，再看这个，也就简单多了。无非就是参考源多了，多了BG参考源，另外还多出一个就是1/4VDD的测量点。

特点1：ADC的参考源多了，可以选择 vdd  4V，3V，2.4V，2V，1.6V和1.2V

特点2.：BG的电压也多了，同样可以选择  4V，3V，2.4V，2V，1.6V和1.2V

特点3.：多一个1/4Vdd测量点，这样就可以不用外挂电阻直接得到VDD的电压了。不用那么麻烦用bg反推vdd了，可以直接测量vdd

案例9，14，16和案例1.2,3是一样的。

案例 10.11.12和案例1也是一样的，只是选择的参考电压不一样而已。

案例13和案例8是一样的。

案例15就是通过使用bg做参考，然后测试1/4VDD，这样就可以反过来知道vdd电压是多少.省心，省力，省空间。

案例17和案例7是一样的。

案例18就在测量过程中可以选择不同的参考源，对IO进行测量，本质和单个参考源没有什么区别，只是在有些情况下，比如需要匹配不同的动态范围，不同的精度，不同的量程的时候有用。

案例19单个通道测量，也就是和案例1没有什么区别

案例20，就多个通道测试，比如要进行电压，电流一起测试，温度，湿度等多个模拟量需要一起测试的时候，可以通过通道切换方式，实现ADC的分时复用。

        就这样，把案例都介绍完成。在总结一下就是，ADC的核心就是已知去测试未知，不管是参考源已知还被测试量已知，必须有一个已知。这样才能得到你所要的结果。形象化一点就是ADC和天平的原理就是一样的，通过不断调整砝码，达到最终天平平衡，然查看砝码是多少，就可以知道被测重物是多少。