DVCon 2020精华解读：三星工程师教你玩转多时间点Save & Restore，加速回归测试

DVCon 2020技术革新：多时间点Save & Restore在芯片验证中的实战应用

芯片验证工程师的日常工作中，最令人头疼的莫过于漫长的仿真等待时间。想象一下，每次修改测试用例后，都需要重新运行长达数小时的初始化流程，而实际关注的测试序列可能只需要几分钟就能完成。这种"热身两小时，上场一分钟"的低效模式，不仅拖慢了项目进度，也严重影响了工程师的工作体验。三星电子在DVCon 2020上提出的多时间点Save & Restore技术，正是针对这一痛点的创新解决方案。

1. 传统验证流程的瓶颈与挑战

现代SoC设计日益复杂，验证工作占据了整个芯片开发周期的60-70%时间。在典型的验证流程中，工程师们面临着几个关键性效率瓶颈：

• 初始化耗时：从系统启动(boot)、外设初始化到PHY训练，这些基础配置流程可能耗时数小时
• 资源占用高：长时间运行的仿真占用大量计算资源、EDA工具license和服务器内存
• 调试迭代慢：每次微小修改都需要从头开始执行整个流程，严重限制调试效率

传统解决方案如emulation虽然速度快，但硬件成本高昂且不适合日常调试；而常规的Save & Restore方法又存在三大局限：

1. 仅支持单一保存点，灵活性不足
2. 要求测试环境和用例完全稳定，无法适应开发中的修改
3. 保存时机难以精确把握，容易错过最佳时间窗口

// 传统单一保存点方法的典型实现
initial begin
    // 漫长初始化过程
    boot_sequence();
    phy_training();
    
    // 唯一保存点
    $save("checkpoint");
    
    // 实际测试序列
    test_sequence();
end

表1对比了不同加速