差分密码分析中的相关差分研究
在密码学的差分密码分析领域,相关差分的研究对于评估密码算法的安全性至关重要。本文将深入探讨相关差分的确定方法、在Rijndael类超级盒中的影响以及一些相关的结论和未来研究方向。
确定相关差分的方法
给定差分的情况
设 $(b, d)$ 是给定的差分,我们希望在给定的线性映射上找到与之相关的差分。记 $(b, d)$ 中非零元素的数量减去 $nt$ 为 $z$,这意味着 $(b, d)$ 中零元素的数量为 $nt - z$。用 $H$ 表示与线性映射相关的线性码的校验矩阵。由于 $(b, d)$ 和相关差分 $(b^{\star}, d^{\star})$ 必须对应于相关码的向量,所以有 $H(b, d) = H(b^{\star}, d^{\star}) = 0$,这定义了 $nt$ 个约束条件,每个条件对应 $H$ 的一行。
对于 $b_j$ 或 $d_j$ 不为零的索引 $j$,我们得到关于 $t_j$ 的条件。当 $b_j$ 或 $d_j$ 为零时,对相应的 $b^{\star}_j$ 或 $d^{\star}_j$ 没有条件限制,因此我们从条件集中消除这些未知数。
我们用 $H_p$ 表示一个新的线性码的校验矩阵,其中码向量在 $(b, d)$ 的活动模式为零的位置可以取任意值,而在其他位置的值的条件与线性映射相关的码中的条件相同。记 $H_p$ 的元素为 $h_{i,j}$,则有:
$\sum_{j} h_{i,j}b^{\star} j + \sum {j} h_{i,j + nt}d^{\star}_j = 0$,$i = 0, \cdots, z - 1$。
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