从传统扫描到SSN：Tessent数据包技术如何减少90%测试时间

最新推荐文章于 2026-08-12 19:16:57 发布

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从传统扫描到SSN：数据包技术如何重塑芯片测试效率

在芯片设计领域，测试环节的成本与时间压力正以前所未有的速度增长。随着工艺节点不断微缩，设计规模日益膨胀，尤其是AI加速器、高性能计算芯片以及采用3D IC等先进封装技术的复杂系统级芯片（SoC），传统的扫描测试架构已显得力不从心。工程师们常常面临一个两难困境：要么为了测试覆盖率牺牲上市时间，要么为了赶进度而妥协测试质量。正是在这样的背景下，一种名为流式扫描网络（Streaming Scan Network, SSN）的技术，特别是其核心的数据包（Data Packet）传输机制，正悄然引发一场测试效率的革命。它并非对现有方法的简单修补，而是从数据传输的底层逻辑出发，进行的一次彻底重构。

想象一下，传统的扫描测试就像在一条拥堵的多车道高速公路上，每辆车（测试数据）都必须严格按照既定的单一车道行驶到特定出口（被测核心）。一旦某条车道发生事故或流量不均，整个交通系统就会陷入停滞。而SSN的数据包技术，则像是为每辆车装上了智能导航和独立引擎，它们被打包成一个个标准的“集装箱”，在一条统一、高速的智能干线上飞驰，并能根据每个出口的实时需求，精准、独立地卸货。这种从“固定线路运输”到“智能分组投递”的转变，正是将测试时间削减90%背后的核心逻辑。本文将深入剖析这一转变，不仅揭示其技术原理，更结合AI芯片等前沿案例，探讨其在复杂设计中的实际威力。

1. 传统扫描测试的瓶颈：为何我们急需变革

在深入SSN之前，我们必须理解它所试图解决的痛点。传统的可测试性设计（DFT）方法，特别是基于扫描链的测试，在过去几十年里一直是芯片验证的基石。其工作模式相对直接：通过芯片引脚将测试向量串行移入内部的扫描链，施加测试激励，捕获响应，再将结果串行移出进行分析。然而，随着芯片复杂度的指数级增长，这套方法的局限性日益凸显。

首先，最直接的挑战是测试数据量（Test Data Volume）和测试应用时间（Test Application Time）的爆炸式增长。一个拥有数百甚至数千个扫描链的现代SoC，其测试模式数量可能达到数百万个。每个模式都需要将大量数据通过有限的I/O引脚移入移出，这个过程极其耗时。测试机台的时间是昂贵的，漫长的测试时间直接转化为高昂的制造成本。

其次，是测试资源分配僵化的问题。在传统架构中，测试访问机制（TAM）通常以固定的带宽将芯片引脚连接到各个内部核心。这种设计存在几个固有缺陷：

带宽浪费：不同核心的测试需求差异巨大。一个简单的控制模块可能只需要很短的扫描链和少量测试模式，而一个复杂的CPU或GPU核心则需要海量数据。固定带宽分配会导致简单核心的通道闲置，而复杂核心的通道却严重拥堵。
设计依赖性强：TAM的拓扑结构（如总线宽度、路由）通常在设计早期就需要确定，并且与物理布局紧密耦合。后期如果核心的测试需求发生变化，或者需要增加测试覆盖点，调整TAM的代价非常高，甚至不可行。
可扩展性差：对于包含多个相同IP核（例如AI芯片中的计算阵列）的设计，传统方法需要为每个核复制独立的测试访问路径，这增加了布线复杂度和面积开销。

再者，功耗和信号完整性也成为严峻挑战。在测试模式下，大量扫描链同时翻转会引发远高于功能模式的峰值功耗（IR Drop），可能导致电压下降、时序违例，甚至损坏芯片。同时，密集的测试布线会带来串扰、噪声等问题，影响测试结果的可靠性。

最后，测试调度与协调异常复杂。在SoC测试中，需要协调多个核心的测试序列，管理它们之间的依赖关系和资源共享。传统方法缺乏灵活性，难以实现高效、并发的测试执行。

注意：这些瓶颈并非孤立存在，它们相互交织，共同构成了一个恶性循环：为了应对复杂度而增加测试数据，导致测试时间更长、功耗更高；为了控制功耗而限制并行度，又进一步拖慢了测试速度。

面对这些挑战，业界一直在寻求突破。从测试压缩（TestKompress）到基于广播的扫描（Broadcast Scan），各种优化技术层出不穷。然而，这些方法大多是在现有传输框架内的改良。SSN数据包技术的革命性在于，它彻底摒弃了“一对一”的固定管道思维，转向了“一对多”的智能网络化数据分发模式，为上述所有问题提供了一个统一的、优雅的解决方案。