功能安全实战系列08-英飞凌TC3xx ECC监控开发详解

0. 前言

在本系列笔者将结合工作中对功能安全实战部分的开发经验进一步介绍常用，包括Memory(Flash，Ram)失效检测，程序运行时序时间检测，及功能安全软件相关的功能安全分析，DFA分析方法等进行介绍。从本篇开始将对英飞凌Tricore系列芯片功能安全进行系统介绍，包括SMU，MONBIST，LBIST，MBIST，时钟监控，ECC，MPU，总线监控等，如您对汽车电子底层相关Autosar全模块实战感兴趣，可参读专栏：AutoSar实战进阶系列导读

本篇将先对ECC监控(PFlash及DFlash)开发介绍，步骤详细配合开发中的测试情况方便理解。后续再单独介绍SRAM的ECC监控开发，主要框架如下：

1. Why?

ECC（Error Correction Code）即错误纠正码，用于内存的错误检查和纠正，其作用原理为在每次读数据时，内存的ECC机制会计算此次读出的数据的校验码，并检查该校验码是否与存入该数据时计算的校验码一致。如果不一致，则说明这块内存存在问题。

ECC一般是实现1比特的错误纠正和2比特错误的检查，嵌入式芯片的ECC组合一般是32+7和64+8的组