DFT 系列（3）：ATPG、故障模型与 Coverage——别被 99% 这个数字骗了

DFT 系列（3）：ATPG、故障模型与 Coverage——别被 99% 这个数字骗了

反方观点：没有故障模型、分母定义和分类明细的“99% coverage”没有可比性。它可能是 stuck-at test coverage，也可能排除了大量 untestable 或 X-blocked faults。[COMMON, confidence=HIGH]

1. ATPG 在做什么

Automatic Test Pattern Generation 的抽象目标，是为目标故障寻找一组输入/Scan 状态，使故障：[FRAME]

1. 在故障点被激活；
2. 沿可传播路径到达 scan cell、primary output 或 compactor；
3. 在规定的 clock/reset/test protocol 下被捕获；
4. 不被未知值或 mask 吞掉。

ATPG 的输入不是只有 netlist，还包括 cell library、scan protocol、clock/reset 定义、test mode 约束、X source、black box、compression model 和 fault model。[COMMON, confidence=HIGH]