【数字IC基础】DFT（Design For Test）可测性设计

一、为什么要做DFT（可测性设计）？

• 1、芯片测试分为功能性测试和制造测试：
  • 功能测试：寻找设计上可能存在的错误，用来验证电路中的逻辑行为
  • 制造测试：寻找在制造过程中可能存在的制造缺陷（开路、短路等），DFT就属于这一类。
• 2、在STA（静态时序分析）一节中，我们了解到综合后的网表需要做FM验证（功能上的验证）和STA（时序上的验证），这两种验证都是为了确保综合后的网表的正确性。
• 3、验证完毕的网表还需要做DFT，来验证芯片制造上的缺陷（wafer在制作过程中，因为工艺参数的偏差，可能会造成功能不正确）
  • DFT一般是在网表基础