华为OD机考双机位C卷 - FLASH坏块监测系统 （Java & Python & JS & GO & C++ & C）

FLASH坏块监测系统

2026华为OD机试双机位C卷 - 华为OD上机考试双机位C卷

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题目描述

开发一个 FLASH 坏块监测系统，能够监测 FLASH 中坏块的数量。FLASH 介质以一个大小为 m×n的二维二进制矩阵表示，其中：0 表示正常，1 表示异常。最初，FLASH 介质中的所有单元格都是正常（即，所有单元格都是 0）。
系统运行过程中，FLASH 坏块不断产生：随着系统持续运行，某一个时刻 i，FLASH 介质中的某个单元格 (ri,ci)由正常变为异常。返回一个整数数组 result，其中 result[i] 是 FLASH 介质中第 i 个时刻 (ri,ci)位置变为异常后，FLASH 中坏块的数量。坏块的定义：坏块是由 4 个方向相连的异常单元格组成的“极大”块。你可以假设给定的 FLASH 介质外的所有点都是正常的。

输入描述

第一行输入和第二行输入分别为 m 和 n，表示 FLASH 介质是 m×n的二维二进制矩阵。
第三行开始的每一行表示第 ii 个时刻新增的异常位置 (ri,ci)最多 1000 个。

注意：

• 1≤m,n≤10^3
• 1≤m×n≤10^4
• 0≤ri<m
• 0≤ci<n

输出描述

一个整数数组 result，其中 result[i] 是 FLASH 介质中第 i 个时刻 (ri,ci)位置变为异常后，FLASH 中坏块的数量。

示例1

输入

4
3
1,1
2,2
3,2
0,2
1,2

输出

[1,2,2,3,1]

说明

起初，FLASH 介质被认为全部是正常的（0 代表正常，1 代表异常）。
时刻 1：位置 [1,1] 由正常状态变为异常状态。此时存在 1 个坏块。
时刻 2：位置 [2,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 2 个坏块。
时刻 3：位置 [3,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 2 个坏块。
时刻 4：位置 [0,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 3 个坏块。
时刻 5：位置 [1,2] 由正常状态变为异常状态。此时存在 1 个坏块。

示例2

输入

1
1
0,0

输出

[1]

说明

解题思路

核心思想

本题要求在 M × N M \times N