stm32f103晶振调试总结

最新推荐文章于 2026-05-28 11:51:29 发布

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本文详细记录了STM32F103系列MCU在更换25M外部晶振后，对代码进行相应修改的过程，以及由此引发的滴答时钟异常现象分析。揭示了外部晶振超出规定范围时，系统自动切换到内部HSI晶振导致的问题，并深入解释了滴答时钟配置函数的工作原理。

最近也是无意间拿到一块焊错了25M晶振的stm32f103晶振的板子来调试。在此总结一下，stm32f103和stm32f103修改外部晶振的学习过程。

cl：互联型产品，stm32f105/107系列

xl：超高密度产品，stm32f101/103系列

从代码看起来，在stm32f10x.h中，

#if !defined  HSE_VALUE
 #ifdef STM32F10X_CL           //STM32F105/107互联性
  #define HSE_VALUE    ((uint32_t)25000000) /*!< Value of the External oscillator in Hz */
 #else                         //其他的，stm32f103也包括其中
  #define HSE_VALUE    ((uint32_t)8000000) /*!< Value of the External oscillator in Hz */
 #endif /* STM32F10X_CL */
#endif /* HSE_VALUE */

由于板子焊接的是25M晶振，所以将 #define HSE_VALUE ((uint32_t)8000000) 改为 #define HSE_VALUE ((uint32_t)25000000)。

打开system_stm32f10x.c文件，

#if defined (STM32F10X_LD_VL) || (defined STM32F10X_MD_VL) || (defined STM32F10X_HD_VL)
/* #define SYSCLK_FREQ_HSE    HSE_VALUE */
 #define SYSCLK_FREQ_24MHz  24000000
#else
/* #define SYSCLK_FREQ_HS