用于控制 BIST 以及其显示状态。若是不支持则必须通过硬件方式置零。支持 BIST 的 function 不能妨碍正常的 PCIE 链路传输。
BIST(Built-In Self Test)是一种用于集成电路和系统的自检功能。它的主要目的是在不依赖外部测试设备的情况下,自动检测和验证芯片或系统的功能和性能。BIST通常用于在生产过程中进行芯片的初步测试,以及在设备运行时进行周期性自检,以确保其正常工作。通过这种方式,BIST可以帮助识别故障和缺陷,提高系统的可靠性和安全性。
Bit0:3 用于指示当前 BIST 状态,全零则为通过,非零说明有错误。
Bit6:如果设置了“BIST Capable”,则设置该位调用BIST。该函数在BIST完成时重置位。如果该位在设置后2秒内未清除(BIST未完成),则允许软件使设备故障。将这个位写入0b没有效果。如果BIST Capable为Clear,则该位必须硬连接到0b。
Bit7:表明当前 function 是否支持 BIST。


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